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20KV 靜電放電發(fā)生器，別稱靜電放電測試儀、靜電放電槍、靜電放電干擾測試儀。 靜電放電是普遍存在的自然現(xiàn)象：帶電物體靠近或接觸導(dǎo)體時會產(chǎn)生電荷轉(zhuǎn)移，即為靜電放電。靜電放電屬于危害性極強(qiáng)的電磁能量，對各類電氣、電子產(chǎn)品與系統(tǒng)影響廣泛。提升電子產(chǎn)品抗靜電性能，是保障產(chǎn)品安全運(yùn)行的關(guān)鍵。 我司自研 20KV 靜電放電發(fā)生器，用來考核電氣、電子設(shè)備及整機(jī)系統(tǒng)遭遇靜電放電干擾時的工作性能，可實(shí)現(xiàn)最高 20kV 接觸放電與空氣放電測試，整機(jī)符合 IEC61000-4-2、GB/T17626.2 現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)。
EMC測試儀是可進(jìn)行靜電放電抗擾度、電快速瞬變脈沖群抗擾度及浪涌（沖擊）抗擾度三項(xiàng)試驗(yàn)的多功能組合抗擾度測試設(shè)備，三項(xiàng)試驗(yàn)功能可自由組合。產(chǎn)品滿足IEC61000-4-2、IEC61000-4-4、IEC61000-4-5和GB/T17626.2、GB/T17626.4、GB/T17626.5等新標(biāo)準(zhǔn)要求。 EMC S03-W包含靜電放電抗擾度、電快速瞬變脈沖群抗擾度及浪涌（沖擊）抗擾度三項(xiàng)試驗(yàn)。 EMC S02-W包含電快速瞬變脈沖群抗擾度和浪涌（沖擊）抗擾度兩項(xiàng)項(xiàng)試驗(yàn)。 EMC S02-E包含靜電放電抗擾度和浪涌（沖擊）抗擾度兩項(xiàng)試驗(yàn)。 EMC S02-F包含靜電放電抗擾度和電快速瞬變脈沖群抗擾度兩項(xiàng)試驗(yàn)。 產(chǎn)品采用內(nèi)置全自動耦合/去耦網(wǎng)路，全觸屏操作界面，性能可與進(jìn)口品牌媲美。
我司自主研發(fā)生產(chǎn) 30KV 靜電放電發(fā)生器，設(shè)備最高輸出電壓可達(dá) 30KV，主要用于模擬現(xiàn)實(shí)環(huán)境中的靜電沖擊，精準(zhǔn)考核各類電氣產(chǎn)品、電子元器件、整機(jī)設(shè)備以及成套電控系統(tǒng)在遭遇靜電放電干擾時的運(yùn)行狀態(tài)與抗干擾性能。整機(jī)軟硬件設(shè)計(jì)嚴(yán)格對標(biāo)現(xiàn)行規(guī)范，全面滿足 IEC61000-4-2 國際標(biāo)準(zhǔn)與 GB/T17626.2 國內(nèi)國家標(biāo)準(zhǔn)相關(guān)技術(shù)要求，測試數(shù)據(jù)精準(zhǔn)可靠，廣泛應(yīng)用于家電、數(shù)碼、工控、醫(yī)療器械等多行業(yè)可靠性檢測。
雷擊浪涌測試儀又稱雷擊浪涌發(fā)生器、組合波發(fā)生器等等； 自然界的雷擊（間接雷）以及供電線路中因大型開關(guān)切換所引起的電壓變化對供電線路和通信線路的影響，其能量特別大，對產(chǎn)品的影響可能是破壞性的。雷擊浪涌測試儀用于評估設(shè)備在遭受來自電源線端口和其他信號線端口上高能量騷擾時的性能。產(chǎn)品完全滿足IEC61000-4-5和GB/T17626.5等新標(biāo)準(zhǔn)要求。
雷擊浪涌發(fā)生器也叫組合波浪涌測試儀，主要模擬自然界間接雷擊、電網(wǎng)大容量開關(guān)分合閘產(chǎn)生的高能浪涌沖擊。此類瞬態(tài)干擾能量大，極易擊穿元器件、損毀整機(jī)，設(shè)備需通過浪涌抗擾測試才能保障野外、電網(wǎng)復(fù)雜環(huán)境穩(wěn)定運(yùn)行。 儀器按照IEC61000-4-5、GB/T17626.5國標(biāo)設(shè)計(jì)，可對產(chǎn)品電源端口、信號通信端口注入標(biāo)準(zhǔn)浪涌波形，檢測產(chǎn)品耐受高能過電壓沖擊的能力。 適用領(lǐng)域：開關(guān)電源、工控設(shè)備、安防器材、家用電器、光伏配件、車載電子、儀器儀表、充電樁、通信終端等產(chǎn)品研發(fā)摸底、型式認(rèn)證與出廠可靠性檢測。
脈沖群發(fā)生器又稱快速瞬變脈沖群發(fā)生器等等；電路中，諸如來自切換瞬態(tài)過程（切斷感性負(fù)載、繼電器觸點(diǎn)彈掉等），通常會對同一電路中的其他電氣和電子設(shè)備產(chǎn)生干擾。這類干擾的特點(diǎn)是：高幅值、短上升時間、高重復(fù)率和低能量。成群出現(xiàn)的窄脈沖可對半導(dǎo)體器件的結(jié)電容充電，當(dāng)累積到一定程度后可能引起電路或設(shè)備出錯。脈沖群發(fā)生器為評估電氣和電子設(shè)備的供電電源端口、信號、控制和接地端口在受到電快速瞬變脈沖群干擾時的性能確定一個共同的能再現(xiàn)的評定依據(jù)。產(chǎn)品滿足IEC61000-4-4、EN60100-4-4和GB/T17626.4等新標(biāo)準(zhǔn)要求。
日常電氣設(shè)備故障很多源于開關(guān)瞬變脈沖干擾，索莘 EFT-T6 電快速瞬變脈沖群發(fā)生器，精準(zhǔn)復(fù)刻現(xiàn)場工況干擾。該類干擾具備電壓幅值高、上升沿陡、重復(fù)頻率高、單脈沖能量低特征；密集窄脈沖會持續(xù)給半導(dǎo)體結(jié)電容累積充電，達(dá)到閾值后易造成設(shè)備誤動作、程序錯亂。 本儀器依據(jù) IEC61000-4-4、EN 61000-4-4、GB/T 17626.4 現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)研發(fā)，統(tǒng)一復(fù)現(xiàn)干擾環(huán)境，對被測產(chǎn)品電源端口、信號端口、控制端口、接地端口開展抗擾度測試，判定電氣電子產(chǎn)品耐受電快速瞬變脈沖干擾的工作可靠性。
靜電放電是普遍存在的自然現(xiàn)象。ESD 114E依據(jù)人體模型 (HBM) 與機(jī)械模型 (MM) 靜電放電抗擾度試驗(yàn)的規(guī)范特點(diǎn)及技術(shù)要求專項(xiàng)研發(fā)，整機(jī)劃分為 HBM 靜電測試平臺、MM 靜電測試平臺兩大測試單元，專門面向 LED、晶體管、IC 芯片等各類半導(dǎo)體元器件開展靜電抗擾測試。 設(shè)備性能符合 ANSI-STM5.1-2001、JESD22-A114D-2005、AEC-Q100-002D-2003、JEDEC JESD 22-A114E、IEC61000-4-2 等多項(xiàng)國內(nèi)外行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。
靜電槍又稱靜電放電發(fā)生器、靜電放電測試儀、靜電放電槍、靜電放電干擾測試儀、ESD測試儀等等; 靜電放電是普遍存在的自然現(xiàn)象（當(dāng)帶電的物體靠近或接觸一個導(dǎo)體時，電荷就要發(fā)生轉(zhuǎn)移，這就是靜電放電），靜電放電對電氣和電子設(shè)備、裝置或系統(tǒng)的影響無處不在，是一種危害程度極高的電磁能量。只有提高電子產(chǎn)品抗靜電能力水平才能保證電子產(chǎn)品的安全使用。ESD測試儀用于評估電氣和電子設(shè)備、裝置或系統(tǒng)遭受靜電放電時的性能。產(chǎn)品完全滿足IEC61000-4-2和GB/T17626.2等新標(biāo)準(zhǔn)要求。
靜電放電是普遍存在的自然現(xiàn)象，ESD 8K 是針對人體模型(HBM)和機(jī)械模型(MM)的靜 電放電抗擾度試驗(yàn)的特點(diǎn)和要求而專門設(shè)計(jì)，分HBM 靜電測試平臺和MM 靜電測試平臺。 適用于如 LED、晶體管、IC 等半導(dǎo)體器件的測試。產(chǎn)品滿足 ANSI-STM5.1-2001、 JESD22-A114D -2005、AEC-Q100-002D -2003 等相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要求。
EMC031采用靜電、脈沖群、浪涌三合一集成設(shè)計(jì)，一臺設(shè)備替代三臺單機(jī)設(shè)備，有效節(jié)約采購成本與實(shí)驗(yàn)室空間。嚴(yán)格遵循GB/T 17626.2/4/5、IEC61000-4-2/4-4/4-5全套電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)，測試數(shù)據(jù)合規(guī)有效，可用于產(chǎn)品認(rèn)證摸底。搭載10.1寸彩色液晶觸摸大屏，支持多國語言，內(nèi)置全套標(biāo)準(zhǔn)測試參數(shù)，一鍵調(diào)用、操作簡單、測試高效。可滿足研發(fā)、質(zhì)檢、認(rèn)證摸底全場景EMC抗擾測試，適配家電、工控、電源、通訊等全品類產(chǎn)品，最高20kV靜電輸出覆蓋民用與工業(yè)等級。搭配CLD穩(wěn)壓與多級短路保護(hù)，測試穩(wěn)定、不傷樣品、設(shè)備運(yùn)行更安全可靠。
電路中，諸如來自切換瞬態(tài)過程（切斷感性負(fù)載、繼電器觸點(diǎn)彈跳等），通常會對同一電路中的其他電氣和電子設(shè)備產(chǎn)生干擾。這類干擾的特點(diǎn)是：高幅值、上升時間短、高重復(fù)率和低能量。成群出現(xiàn)的窄脈沖可對半導(dǎo)體器件的結(jié)電容充電，當(dāng)累積到一定程度后可能引起電路或設(shè)備出錯。我司自主研發(fā)的脈沖群發(fā)生器為評估電氣和電子設(shè)備的供電電源端口、信號、控制和接地端口在受到電快速瞬變脈沖群干擾時的性能確定一個共同的能再現(xiàn)的評定依據(jù)。符合標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 17626.4《電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)》 、IEC61000-4-4：Testing and measurement techniques-Electrical fast fransient/burst immunity test
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