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20KV 靜電放電發(fā)生器，別稱靜電放電測試儀、靜電放電槍、靜電放電干擾測試儀。 靜電放電是普遍存在的自然現(xiàn)象：帶電物體靠近或接觸導(dǎo)體時(shí)會產(chǎn)生電荷轉(zhuǎn)移，即為靜電放電。靜電放電屬于危害性極強(qiáng)的電磁能量，對各類電氣、電子產(chǎn)品與系統(tǒng)影響廣泛。提升電子產(chǎn)品抗靜電性能，是保障產(chǎn)品安全運(yùn)行的關(guān)鍵。 我司自研 20KV 靜電放電發(fā)生器，用來考核電氣、電子設(shè)備及整機(jī)系統(tǒng)遭遇靜電放電干擾時(shí)的工作性能，可實(shí)現(xiàn)最高 20kV 接觸放電與空氣放電測試，整機(jī)符合 IEC61000-4-2、GB/T17626.2 現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)。
EMC測試儀是可進(jìn)行靜電放電抗擾度、電快速瞬變脈沖群抗擾度及浪涌（沖擊）抗擾度三項(xiàng)試驗(yàn)的多功能組合抗擾度測試設(shè)備，三項(xiàng)試驗(yàn)功能可自由組合。產(chǎn)品滿足IEC61000-4-2、IEC61000-4-4、IEC61000-4-5和GB/T17626.2、GB/T17626.4、GB/T17626.5等新標(biāo)準(zhǔn)要求。 EMC S03-W包含靜電放電抗擾度、電快速瞬變脈沖群抗擾度及浪涌（沖擊）抗擾度三項(xiàng)試驗(yàn)。 EMC S02-W包含電快速瞬變脈沖群抗擾度和浪涌（沖擊）抗擾度兩項(xiàng)項(xiàng)試驗(yàn)。 EMC S02-E包含靜電放電抗擾度和浪涌（沖擊）抗擾度兩項(xiàng)試驗(yàn)。 EMC S02-F包含靜電放電抗擾度和電快速瞬變脈沖群抗擾度兩項(xiàng)試驗(yàn)。 產(chǎn)品采用內(nèi)置全自動耦合/去耦網(wǎng)路，全觸屏操作界面，性能可與進(jìn)口品牌媲美。
我司自主研發(fā)生產(chǎn) 30KV 靜電放電發(fā)生器，設(shè)備最高輸出電壓可達(dá) 30KV，主要用于模擬現(xiàn)實(shí)環(huán)境中的靜電沖擊，精準(zhǔn)考核各類電氣產(chǎn)品、電子元器件、整機(jī)設(shè)備以及成套電控系統(tǒng)在遭遇靜電放電干擾時(shí)的運(yùn)行狀態(tài)與抗干擾性能。整機(jī)軟硬件設(shè)計(jì)嚴(yán)格對標(biāo)現(xiàn)行規(guī)范，全面滿足 IEC61000-4-2 國際標(biāo)準(zhǔn)與 GB/T17626.2 國內(nèi)國家標(biāo)準(zhǔn)相關(guān)技術(shù)要求，測試數(shù)據(jù)精準(zhǔn)可靠，廣泛應(yīng)用于家電、數(shù)碼、工控、醫(yī)療器械等多行業(yè)可靠性檢測。
雷擊浪涌測試儀又稱雷擊浪涌發(fā)生器、組合波發(fā)生器等等； 自然界的雷擊（間接雷）以及供電線路中因大型開關(guān)切換所引起的電壓變化對供電線路和通信線路的影響，其能量特別大，對產(chǎn)品的影響可能是破壞性的。雷擊浪涌測試儀用于評估設(shè)備在遭受來自電源線端口和其他信號線端口上高能量騷擾時(shí)的性能。產(chǎn)品完全滿足IEC61000-4-5和GB/T17626.5等新標(biāo)準(zhǔn)要求。
雷擊浪涌發(fā)生器也叫組合波浪涌測試儀，主要模擬自然界間接雷擊、電網(wǎng)大容量開關(guān)分合閘產(chǎn)生的高能浪涌沖擊。此類瞬態(tài)干擾能量大，極易擊穿元器件、損毀整機(jī)，設(shè)備需通過浪涌抗擾測試才能保障野外、電網(wǎng)復(fù)雜環(huán)境穩(wěn)定運(yùn)行。 儀器按照IEC61000-4-5、GB/T17626.5國標(biāo)設(shè)計(jì)，可對產(chǎn)品電源端口、信號通信端口注入標(biāo)準(zhǔn)浪涌波形，檢測產(chǎn)品耐受高能過電壓沖擊的能力。 適用領(lǐng)域：開關(guān)電源、工控設(shè)備、安防器材、家用電器、光伏配件、車載電子、儀器儀表、充電樁、通信終端等產(chǎn)品研發(fā)摸底、型式認(rèn)證與出廠可靠性檢測。
脈沖群發(fā)生器又稱快速瞬變脈沖群發(fā)生器等等；電路中，諸如來自切換瞬態(tài)過程（切斷感性負(fù)載、繼電器觸點(diǎn)彈掉等），通常會對同一電路中的其他電氣和電子設(shè)備產(chǎn)生干擾。這類干擾的特點(diǎn)是：高幅值、短上升時(shí)間、高重復(fù)率和低能量。成群出現(xiàn)的窄脈沖可對半導(dǎo)體器件的結(jié)電容充電，當(dāng)累積到一定程度后可能引起電路或設(shè)備出錯(cuò)。脈沖群發(fā)生器為評估電氣和電子設(shè)備的供電電源端口、信號、控制和接地端口在受到電快速瞬變脈沖群干擾時(shí)的性能確定一個(gè)共同的能再現(xiàn)的評定依據(jù)。產(chǎn)品滿足IEC61000-4-4、EN60100-4-4和GB/T17626.4等新標(biāo)準(zhǔn)要求。
日常電氣設(shè)備故障很多源于開關(guān)瞬變脈沖干擾，索莘 EFT-T6 電快速瞬變脈沖群發(fā)生器，精準(zhǔn)復(fù)刻現(xiàn)場工況干擾。該類干擾具備電壓幅值高、上升沿陡、重復(fù)頻率高、單脈沖能量低特征；密集窄脈沖會持續(xù)給半導(dǎo)體結(jié)電容累積充電，達(dá)到閾值后易造成設(shè)備誤動作、程序錯(cuò)亂。 本儀器依據(jù) IEC61000-4-4、EN 61000-4-4、GB/T 17626.4 現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)研發(fā)，統(tǒng)一復(fù)現(xiàn)干擾環(huán)境，對被測產(chǎn)品電源端口、信號端口、控制端口、接地端口開展抗擾度測試，判定電氣電子產(chǎn)品耐受電快速瞬變脈沖干擾的工作可靠性。
靜電放電是普遍存在的自然現(xiàn)象。ESD 114E依據(jù)人體模型 (HBM) 與機(jī)械模型 (MM) 靜電放電抗擾度試驗(yàn)的規(guī)范特點(diǎn)及技術(shù)要求專項(xiàng)研發(fā)，整機(jī)劃分為 HBM 靜電測試平臺、MM 靜電測試平臺兩大測試單元，專門面向 LED、晶體管、IC 芯片等各類半導(dǎo)體元器件開展靜電抗擾測試。 設(shè)備性能符合 ANSI-STM5.1-2001、JESD22-A114D-2005、AEC-Q100-002D-2003、JEDEC JESD 22-A114E、IEC61000-4-2 等多項(xiàng)國內(nèi)外行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。
靜電槍又稱靜電放電發(fā)生器、靜電放電測試儀、靜電放電槍、靜電放電干擾測試儀、ESD測試儀等等; 靜電放電是普遍存在的自然現(xiàn)象（當(dāng)帶電的物體靠近或接觸一個(gè)導(dǎo)體時(shí)，電荷就要發(fā)生轉(zhuǎn)移，這就是靜電放電），靜電放電對電氣和電子設(shè)備、裝置或系統(tǒng)的影響無處不在，是一種危害程度極高的電磁能量。只有提高電子產(chǎn)品抗靜電能力水平才能保證電子產(chǎn)品的安全使用。ESD測試儀用于評估電氣和電子設(shè)備、裝置或系統(tǒng)遭受靜電放電時(shí)的性能。產(chǎn)品完全滿足IEC61000-4-2和GB/T17626.2等新標(biāo)準(zhǔn)要求。
靜電放電是普遍存在的自然現(xiàn)象，ESD 8K 是針對人體模型(HBM)和機(jī)械模型(MM)的靜 電放電抗擾度試驗(yàn)的特點(diǎn)和要求而專門設(shè)計(jì)，分HBM 靜電測試平臺和MM 靜電測試平臺。 適用于如 LED、晶體管、IC 等半導(dǎo)體器件的測試。產(chǎn)品滿足 ANSI-STM5.1-2001、 JESD22-A114D -2005、AEC-Q100-002D -2003 等相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要求。
EMC031采用靜電、脈沖群、浪涌三合一集成設(shè)計(jì)，一臺設(shè)備替代三臺單機(jī)設(shè)備，有效節(jié)約采購成本與實(shí)驗(yàn)室空間。嚴(yán)格遵循GB/T 17626.2/4/5、IEC61000-4-2/4-4/4-5全套電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)，測試數(shù)據(jù)合規(guī)有效，可用于產(chǎn)品認(rèn)證摸底。搭載10.1寸彩色液晶觸摸大屏，支持多國語言，內(nèi)置全套標(biāo)準(zhǔn)測試參數(shù)，一鍵調(diào)用、操作簡單、測試高效?？蓾M足研發(fā)、質(zhì)檢、認(rèn)證摸底全場景EMC抗擾測試，適配家電、工控、電源、通訊等全品類產(chǎn)品，最高20kV靜電輸出覆蓋民用與工業(yè)等級。搭配CLD穩(wěn)壓與多級短路保護(hù)，測試穩(wěn)定、不傷樣品、設(shè)備運(yùn)行更安全可靠。
電路中，諸如來自切換瞬態(tài)過程（切斷感性負(fù)載、繼電器觸點(diǎn)彈跳等），通常會對同一電路中的其他電氣和電子設(shè)備產(chǎn)生干擾。這類干擾的特點(diǎn)是：高幅值、上升時(shí)間短、高重復(fù)率和低能量。成群出現(xiàn)的窄脈沖可對半導(dǎo)體器件的結(jié)電容充電，當(dāng)累積到一定程度后可能引起電路或設(shè)備出錯(cuò)。我司自主研發(fā)的脈沖群發(fā)生器為評估電氣和電子設(shè)備的供電電源端口、信號、控制和接地端口在受到電快速瞬變脈沖群干擾時(shí)的性能確定一個(gè)共同的能再現(xiàn)的評定依據(jù)。符合標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 17626.4《電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)》 、IEC61000-4-4：Testing and measurement techniques-Electrical fast fransient/burst immunity test
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