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雷擊浪涌發(fā)生器SUR 8/20V1專門(mén)針對(duì)半導(dǎo)體器件及手機(jī)通信產(chǎn)品而設(shè)計(jì)的低壓浪涌試驗(yàn),依據(jù)電磁兼容試驗(yàn)中的雷擊浪涌抗擾度試驗(yàn)特點(diǎn)和要求而設(shè)計(jì)的低壓雷擊浪涌發(fā)生器。符合標(biāo)準(zhǔn):GB/T 17626.5《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 浪涌(沖擊)抗擾度試驗(yàn)》 、IEC61000-4-5:Testing and measurement techniques-Surge immunity test


雷擊浪涌信號(hào)線耦合/去耦網(wǎng)絡(luò)CDN-I/O是專門(mén)針對(duì)通訊產(chǎn)品及其它信號(hào)線做浪涌測(cè)試的耦合/去耦網(wǎng)絡(luò),可單線、雙線、四線同時(shí)測(cè)試。產(chǎn)品符合IEC61000-4-5和GB/T17626.5等相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要求。
