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CIT6000-25射頻傳導(dǎo)抗擾度測(cè)試設(shè)備，采用一體化設(shè)計(jì)，內(nèi)置信號(hào)發(fā)生器、射頻功率放大器以及射頻功率計(jì)。設(shè)備支持外置功率放大器，具備更強(qiáng)的系統(tǒng)擴(kuò)展性。CIT6000-25內(nèi)置工控機(jī)，搭配專(zhuān)用射頻傳導(dǎo)抗擾度測(cè)試軟件，可進(jìn)行全自動(dòng)校準(zhǔn)和測(cè)試，極大提高系統(tǒng)可擴(kuò)展性及測(cè)試效率，支持用戶(hù)自行查看、保存、打印測(cè)試結(jié)果。
射頻傳導(dǎo)抗擾度測(cè)試的基本原理是模擬實(shí)際使用環(huán)境中可能遇到的射頻干擾，通過(guò)射頻干擾源產(chǎn)生的干擾信號(hào)，經(jīng)過(guò)傳輸線引入到被測(cè)試設(shè)備的輸入端，觀察被測(cè)試設(shè)備在受到干擾后的性能表現(xiàn)。測(cè)試過(guò)程中，需要對(duì)被測(cè)試設(shè)備的各項(xiàng)性能指標(biāo)進(jìn)行監(jiān)測(cè)，以判斷其是否滿(mǎn)足相關(guān)的電磁兼容性標(biāo)準(zhǔn)要求。符合標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 17626.6 《電磁兼容 射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度測(cè)試》 、GB/T 17626.6 lectromagnetic compatibility - Conducted disturbance immunity test for radio frequency field induction
低頻傳導(dǎo)抗擾度（差模電流）測(cè)試設(shè)備用于驗(yàn)證電子設(shè)備對(duì)低頻差模干擾的耐受能力。差模電流通過(guò)電源線或信號(hào)線回路形成干擾，常見(jiàn)于電機(jī)啟停、開(kāi)關(guān)電源等場(chǎng)景，易引發(fā)設(shè)備誤動(dòng)作或性能劣化。該設(shè)備模擬50Hz-150kHz頻段干擾，可精準(zhǔn)注入差模電流信號(hào)，檢測(cè)設(shè)備供電端口的抗干擾性能。
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多功能抗擾度測(cè)試儀
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